成都某半导体公司来我司考察分立器件动态参数测试系统

2020年09月下旬，成都某半导体公司来我司考察分立器件动态参数测试系统，该企业是一家专业从事半导体分立器件研发、生产的高科技电子企业，产品广泛应用于消费电子、物联网、电脑/宽带设备、工业自动化、家用电器系统以及汽车电子系统等诸多系统和领域。考察人员对我司产品给予了高度的肯定，并对我司技术研发能力表示高度的认可。

本次考察的测试设备是由西安易恩电气科技有限公司自主研制、生产的半导体分立器件动态参数测试的专用设备，通过使用更换不同的测试工装可以对不同封装的半导体器件进行非破坏性瞬态测试，通过软件切换可以对不同器件进行动态参数测试。测试原理符合国军标，系统集成度高，性能稳定，具有升级扩展潜能和良好的人机交互，主要由以下几个单元组成：

ü 开关特性测试单元

ü 反向恢复测试单元

ü 栅极电荷测试单元

ü 安全工作区测试系统

ü 结电容测试单元

ü 栅极内阻测试单元

ü 雪崩耐量测试单元

该套测试设备可对各类型 Si·二极管、Si·MOSFET、Si·IGBT 和 SiC·二极管、SiC·MOSFET、SiC·IGBT等分立器件的各项动态参数如开通时间、关断时间、上升时间、下降时间、导通延迟时间、关断延迟时间、开通损耗、关断损耗、栅极总电荷、栅源充电电量、平台电压、反向恢复时间、反向恢复充电电量、反向恢复电流、反向恢复损耗、反向恢复电流变化率、反向恢复电压变化率、集电极短路电流、输入电容、输出电容、反向转移电容、栅极串联等效电阻、雪崩耐量进行测试。