IC测试（DFT）

用来测试工艺过程，即有可能是因为工艺的问题使得芯片失效的问题；

失效问题：

• 空间环境（无尘车间）

• 金属断裂

• 金属短路

• 工艺偏差

失效模型：

SA1->Stuck At 1

A	B	期望Z	实际Z
0	0	0	0
0	1	0	1
1	0	0	0
1	1	1	1

SA0->Stuck At 0

A	B	期望Z	实际Z
0	0	0	0
0	1	0	0
1	0	0	0
1	1	1	0

结构测试:（模式）

• DC Test

• AC Test