【今日头条】2017NI全国测试巡回研讨会武汉站成功举办

2017年10月19日，由美国国家仪器公司（NI） 主办、电子技术应用协办的“2017NI航空航天智能测试系统巡回研讨会”武汉站成功举办，来自武汉地区的近百余名电子工程师聆听了专家的演讲。

NI公司湖北湖南地区销售经理汪洋率先发表了题为《新形势下国防与航空航天通用测试技术与展望》的演讲，他指出在电子战和信息作战的需求下，目前的武器系统正在从单一系统演近为互联系统，例如战机编队内部与编队之间进行信息共享才能实现协同作战。

这就需要武器研发过程中的测试系统和原型开发系统必须与用户需求相匹配。因此，在新形势下，武器系统对测试系统提出了新要求，新的测试系统需要具备以下三大特征，一是通用性与易用性；二是全周期低成本；三是重视数据与应用。

因此，业界迫切需要一个可扩展的通用性的测试平台，来满足日益变化的测试需求。

汪洋以洛克马丁公司的武器测试方案为例，展示了基于NI公司通用测试平台搭建的先进测试系统，可以很方便地在不同机型与场合完成测试工作。

基于对于测试技术的深刻了解，NI的研发人员创新地针对在RF和I/O层面进行统一，形成通用、灵活的硬件结构，然后通过软件来进行协同，从而形成一套硬件统一软件灵活的测试平台。

接下来自NI的技术工程经理周豪和赵广伟分别做了题为《智能时代的全新仿真测试系统》和《先进智能测试系统软件实战》的演讲。

与会电子工程师与NI公司的演讲嘉宾进行了愉快而深入的交流。