X射线能谱仪（EDS）

​ EDS 利用X射线能谱仪（EDS），对不同供应商铁桥表面涂层的元素进行分析，脱落铁桥的表面含有的C元素质量分数52.4，而未脱落铁桥C元素质量分数仅为18.5，脱落铁桥表面含C量远高于未脱落铁桥表面。#芯片# #半导体# #科技#

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