【高端访谈】智能工业时代智能的测试系统不可或缺
测试测量对于现代工业发展的重要性不言而喻，可以说，没有测试技术，就没有科学研究和现代化生产。一个制造企业的测试测量能力是决定其制造水平重要因素之一。而随着智能工业时代的到来，以物联网为代表的众多新技术不断融入到工业生产和智能设备之中，这对测试测量系统提出了更高的要求。
在近日NI主办的2016 PXI技术和应用论坛（PXI TAC）上，智能的测试系统成为所有与会者最为关注的话题。NI全球市场高级副总裁Ajit Gokhale表示，由于智能设备所独特的测试需求，过去封闭式的测试方法已经不够智能，它跟不上智能设备的创新所要求的步伐，所以智能工业时代一个智能化的测试系统将成为不可或缺。
当前，智能设备在各个行业越来越多，这些设备不但融入了众多最新技术，而且品种多样，更新速度快，这就要求测试系统能够适应高度技术集成、更低的成本、适应快速变化和大数据处理分析等需求。
Ajit以智能温控Nest、智能芯片PA、智能Tesla汽车和智能飞机为例来说明当前对智能测试的需求。他介绍说，一个Nest智能温控器，需要测试的部件就包括了温湿度传感器、无线网络、电源、微处理器等，这些高度集成的多种技术需要高度智能的测试设备。再比如一辆特斯拉汽车，要测试的项目就更多，除了汽车电子测试外，还有车载雷达、信息娱乐系统和无线通信等测试，而且不断升级的软件服务要求测试设备也要跟得上不断变化的测试任务。
在未来，这样的智能设备将会越来越多，而传统的台式仪器因为功能固定、处理器不能升级、通信延迟、软件封闭等多种原因，无法较好的胜任测试需要。这就亟需一个更加智能的测试系统来满足需求。Ajit表示，一个智能的测试系统不但要能给用户提供开放、灵活的软件，同时提供种类丰富性能优异的模块化硬件，而且重要的是还要有一个充满活力的生态系统。而开放的、灵活的、模块化的PXI平台正好能满足智能测试的需求。
自NI推出1997年推出PXI技术以来，PXI平台不断被客户和市场认可，现已成为了自动化测试和控制的主流平台。和传统仪器相比，PXI平台具有较高的测量能力，低延迟和高带宽，软件灵活定义，集成定时和同步，高处理性能，尺寸、重量、功耗小，平台仪器齐全等优点;并且PXI平台可以作为整个系统的中心，连接已有的其他仪器，如LXI，VXI，USB，GPIB等，在最大可能减少系统瓶颈的情况下，保持已有设备投资。因此，越来越多的客户使用PXI平台的仪器开展自动化测试。
Ajit介绍说，目前市场上已有60多家供应商，超过2000种PXI模块，在PXI平台上可以分别用三组不同的模块化仪器对物联网设备的传感，互联和电源进行测试，这让测试规划因此而变得非常灵活。正式因为PXI平台具有开放、灵活的软件，模块化的硬件，非常完整的生态系统，让基于PXI平台的解决方案成为了满足智能设备测试的必然选择。
据介绍，在2014年，ADI公司已经成功在产线上应用NI的PXI和LabVIEW，只使用了先前ATE系统的一小部分成本、重量、能耗和封装，就测试了MEMS设备。
在最新的5G技术里，灵活可自定义的NI PXI平台，也为软件无线电(SDR)提供了非常好的解决方案，可以进行多个技术的验证：如毫米波、Massive MIMO等技术。Nokia公司发布的世界上首个毫米波原型，隆德大学100天线Massive MIMO，都能看到 NI PXI的身影。
NI是PXI技术的发明者和领导者，至今仍然在不断投入和持续创新。在PXI TAC上，NI发布了7位半数字万用表(DMM)、802.11ax无线测试解决方案、用于毫米波(mmWave)的软件无线电(SDR)和模块化源测量单元(SMU)等多款构建智能系统测试的产品。特别引人关注的是，NI在7月12日推出了第二代矢量信号收发仪（VST2.0）PXIe-5840，可以解决许多先进的射频测试应用需求，其软件设计的架构能够以独特的方式自定义用户可编程的FPGA。该产品兼具了传统测试与测量所需的RF性能和软件无线电的灵活性，通过LabVIEW系统设计软件，工程师可以在固件级别上将VST改造成他们需要的仪器。
第二代VST展示了NI公司通过软件设计的仪器来持续助力工程师的能力，该产品提供了最具创新性的射频测试、测量和原型验证解决方案来帮助工程师应对复杂且快速变化的无线技术和需求。NI PXIe-5840在单个双插槽PXI Express模块中结合了一个 6.5 GHz RF 矢量信号发生器、6.5 GHz矢量信号分析仪、高性能用户可编程FPGA以及高速串行和并行数字接口。具有1 GHz的带宽，可应用于802.11ac/ax设备测试、移动/物联网设备测试、5G设计和测试、RFIC测试、雷达原型等。借助VST和可编程LabVIEW FPGA，能够迅速对各种不同的场景进行仿真，构建更智能的测试系统。