化学原理习题(2)



1.氧化“能力”


2.氧化性的结构因素


E-O键的强度及它在一个分子中的成键数与中心原子E的电子构型、氧化态、原子半径、成键情况以及分子中的氢离子对它的反极化作用等因素有关。例如, 在HClO、HClO2、HClO3、HClO4系列酸分子中, 随着中心原子氧化数增加, 分子中的Cl-O键数依次增多, 而且, 随着Cl与氧原子之间形成的d-pπ键的数量增加, Cl-O键的强度增大, 键长缩短。即E-O键的数目愈多, 键的强度愈大、要断裂这些键就越难, 中心原子就越不易从外界得到电子, 所以元素的高氧化态含氧酸其氧化性很弱, 甚至没有氧化性。HClO4的氧化性最弱就是一个很好的例子。此外, HClO4的氧化性弱与ClO4有高的对称性也不无关系。
影响E-O键强度的因素有中心原子的电子层结构、成键情况及氢离子的反极化作用等。在同一周期中, 各元素最高氧化态含氧酸的氧化性, 从左到右递增。例如, 第三周期的H4SiO4和H3PO4几乎无氧化性, 但是浓H2SO4和HClO4都有强氧化性。同类型的低氧化态含氧酸离子也有此趋向, 如HClO3和HBrO3的氧化性都分别比H2SO3和H2SeO3的强。
在同一主族中, 元素的最高氧化态含氧酸的氧化性,多数随原子序数增加呈锯齿形升高, 呈现出第二周期性。第三周期元素含氧酸的氧化性有下降趋势, 第四周期元素含氧酸的氧化性有升高趋势, 有些在同族元素中居于最强地位。
第六周期元素含氧酸的氧化性比第五周期元素的强得多, 这与它们的中心原子的6s^2电子对的惰性有关。这些元素倾向于保留6s^2电子而处于低氧化态。

3.卤素的反常现象



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