半导体参数测试仪

ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，IV曲线自动生成，也可根据实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，

通过USB或者RS232与电脑连接，通过友好的人机界面操作，即可完成测试。并实现结果以EXCEL和WORD的格式保存。提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。联系易恩 152 4920 2572.序号测试器件测试参数01绝缘栅双极大功率晶体管IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS02MOS场效应管MOS-FETIDSS；IDSV；IGSSF；IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS03J型场效应管J-FETIGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04二极管DIODEIR；BVR ；VF05晶体管（NPN型/PNP型）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF06双向可控硅TRIACVD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-07可控硅SCRIDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH08硅触发可控硅STSIH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-09达林顿阵列DARLINTONICBO； ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；VCESAT； VBESAT；VBEON10光电耦合OPTO-COUPLERICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)12稳压、齐纳二极管ZENERIR；BVZ；VF；ZZ13三端稳压器REGULATORVout；Iin；14光电开关OPTO-SWITCHICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF15光电逻辑OPTO-LOGICIR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF16金属氧化物压变电阻MOVID+ ID-；VN+；  VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；17固态过压保护器SSOVPID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+  VBO-；VZ+  VZ-18压变电阻VARISTORID+；  ID-；VC+   ；VC-19双向触发二极管 /DIACVF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,系统特征基础规格● IV曲线显示● 局部放大功能● 程序保护最大电流/电压,以防损坏● 品种繁多的曲线● 可编程的数据点对应● 增加线性或对数● 可编程延迟时间可减少器件发热● 保存和重新导入入口程序● 保存和导入之前捕获图象● 曲线数据直接导入到EXCEL● 曲线程序和数据自动存入EXCEL● 程序保护最大电流/电压,以防损坏规    格：450×570×280（mm）质量：62（Kg）工作温度：25℃--40℃工作湿度：小于65%贮存湿度：10%--90%工作电压：200v--240v电源频率：47HZ--63HZ通信接口：RS232 USB系统功耗：<150w曲线测试例举ID vs. VDS at range of VGSID vs. VGS at fixed VDSIS vs. VSDRDS vs. VGS at fixed IDRDS vs. ID at several VGSIDSS vs. VDSHFE vs. ICBVCE（O,S,R,V） vs. ICBVEBO vs. IEBVCBO vs. ICVCE（SAT） vs. ICVBE（SAT） vs. ICVBE（ON） vs. IC （use VBE test）VCE（SAT） vs. IB at a range of ICVF vs. IF