【CT课件】GSI能谱CT成像的基本原理以及可视化分析工具
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医影师华哥小课
CT能谱成像的物理基础
一、X线的基础
1、X线强度(质和量):取决于管电压和管电流复合因素。
①质:穿透物质的能力,只与光子能量有关而与个数无关;(管电压KV来表示)②量:管电流与照射时间的乘积来表示;(管电压mAs来表示)
意义:X线强度越大,说明管电流大,穿透物质的能力强。
CT能谱成像的物理基础
一、X线的基础
2、X线的能量谱:X线本质是电磁波,与微波、可见光和紫外线是一样的。
①特征谱:可用量子论理做完美解释。
即当X线管产生的高能束流电子轰击靶极时,
靶极原子的内层电子脱离原轨道,
外层电子填充空位时产生辐射跃迁,
辐射光子的能量取决于跃迁前后的能级差。
②连续谱:源于轫致辐射。
即高能电子进入靶原子核附近,
受原子核电场作用急剧减速,
损失的能量以X光子的形式辐射出去,
因高速电子与原子核电场的相互作用的情况不同,
因而辐射出的X光子具有各种各样的能量,
从而形成连续谱。
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磁共振扫描参数与扫描定位线;职称考试、上岗证考试真题;实操和后处理技术及解剖、诊断学等
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