如何计算Cpk?(过程能力指数)

新Innovation好书推荐：[点击Logo进入]

---

精益、质量、改善工具？

所谓改善工具，就是对某种问题提出解决方案的工具。

但是，在现场正确的使用该工具的人却并不多。

将现场可能发生的问题总括起来，本次连载通过问答的方式进行说明，

将工具的活用等方法用简单易懂的方式进行介绍。

Q_027:

我想知道【过程能力指数（Cp）】的计算方法。

A :

Cp是指以过程（制程、工程）能力指数（Process Capability Index），表示相应工序过程（制程工程）制造能力的指数，

计算公式如下。

在这里

SU(或USL)：规格上限.

SL(或LSL)： 规格下限.

σ：某标准偏差.

s： 标本偏差.

： 无偏标准差

前面的公式是规格中心值 {M=（规格上限+规格下限）/ 2}与样本均值（

）一致时可使用，根据CP值的过程能力参考下列<表1>。

但是一般情况下，如果从生产现场中寻找样本的平均值，则与规格中心值（Cpk）不一致的情况很多。 这种情况下，必须考虑使用偏移（倾斜bias）的工程能力指数（Cpk），计算公式如下。

这时，k被称为“偏移度”，计算公式如下。

如果这时的偏移程度就与6σ（Sigma）理论中一样，假设为1.5σ（样本标准偏差的1.5倍），根据Cp值的过程能力如下列<表2>相同。

例如，在电子基板（PWB）的宽度上大小规格为7.0±0.5mm时，对基板进行抽样测量的结果显示，宽度的平均值（

）为7.19mm，如果各基板的宽度标准偏差（s）为0.15mm，那么根据Cp和偏差计算的过程能力指数（Cpk）值如下。

❤如果计算偏移度(k)就是 

所以就成：