测试要发现多少个错误才终止？
如果我们事先知道要测试出多少个缺陷后终止测试，就已经满足软件的质量需求，那该是多么惬意的事！因为测试有了明确的目标，测试活动也不会有丝毫的浪费。
这并不是不可能完成的任务。
当我们的任务书中给出了明确的平均无故障时间（MTTF）时，我们就可以推算出要满足MTTF的要求，需要测试出多少个软件缺陷。
平均无故障时间（Mean Time To Failure，MTTF）是系统成功运行的平均时间（通常会在任务书中规定）。软件的实际成功运行时间主要取决于系统中潜伏的缺陷的数目，缺陷数目越多，MTTF越小。
正是由于MTTF与软件中潜在的缺陷数目有关，所以，我们可以通过MTTF，反推出测试要发现的缺陷数目。
在回答这个问题之前，我们先来看看MTTF与缺陷的关系。
要估算MTTF，首先要获得下列参数：
ET——测试之前程序中错误总数；
IT——程序长度（机器指令总数）；
τ——测试（包括调试）时间；
Ed(τ)——在0～τ期间发现的错误数；
Ec(τ)——在0～τ期间改正的错误数。
并且，我们根据历史经验数据，作出下述假定：
在类似的程序中，单位长度里的错误数E T /I T 近似为常数。美国的一些统计数字表明，在测试之前每1 000 条指令中大约有5～20 个错误。
失效率正比于软件中剩余的（潜藏的）错误数，而MTTF与剩余的错误数成反比。
每一个发现的缺陷都被正确地改正，没有引入新的缺陷，即Ed(τ)=Ec(τ)。
根据经验表明，MTTF与单位长度程序中剩余的错误数成反比。
而单位长度程序中的剩余的错误数=单位长度里的错误数-单位长度发现的错误数=E T /I T-Ec(τ)/IT。
所以，我们得出MTTF的计算公式如下：
MTTF=1/K(E T /I T-Ec(τ)/IT)
其中，K 为常数，它也是一个经验值。根据美国的一些统计数据表明，K 的典型值是200。
对这个公式进行变形，我们就会推导出测试需要发现的错误数的计算公式：
Ec(τ)=E T-I T/K*MTTF
这个公式中K是常数（典型值200），MTTF可由任务书中规定的值获得，E T /I T也是一个常数，由此可计算出测试要发现的缺陷数。由于E T /I T是5~25之间的常数，所以推导出来的测试发现的缺陷也是一个范围值。
这正是：
多少错误才终止，无须埋头去测试
可靠时间若已定，推导计算有公式
参考书目：软件工程（第4版），作者：张海藩 吕云翔，出版社：人民邮电出版社有限公司