六西格玛绿带+黑带教材（第9部分 ：离散数据分析）

第9部分 ：离散数据分析

目的：  

在这一部分，我们将侧重如何分析离散数据，以及如何使用分析来规划您项目的下一步。

目标：

1.  解释术语：DPU、DPO、首次合格率(YFT)、滚动合格率 (YRT) 和正常平均合格率(YNA)。

2.  解释 计算缺陷 和机会的规则。

3.  解释计算工序ZLT的方法。

4.  建立/运行用于六个西格玛产品分析的MINITAB工作表。

5.六个西格玛产品分析的输出结果分析

6.确定下一步

主要概念 -离散数据分析

·缺陷:  一个单元中任何不符合规范的地方。

·单元:  过程的输出。

·机会:  测定或测试的任何事情；一个部件、一道工序等等。

·YFT:  (首次合格率):  优质单元的数量除以单元总数。

·YRT:(滚动合格率): 单元无缺陷地通过工序每个步骤的概率。

·YNA: (正常平均合格率):  工序中任何步骤的平均合格率。这种合格率使用Z值来说明过程的特征，它能够用来对比两个拥有不同机会数目的过程。

·Minitab可创建“产品报告(ProductReport)”，提供单个步骤和总计的ZBench值，以及其它图形。

·与支持队伍一起评估产品报告：

·评审结果·

确定特征和机会

·修改实际问题综述

《我是改善家》日本改善大会研修：10月29日——11月3日

日本一年一次的Karakuri改善大会将于今年10月29-30日在横滨国际展览馆举行。改善家将组织前往展会现场目睹400个日本karakuri案例并与日本专家零距离交流。除了展会之外，同时还安排参观日本丰田，AVEX等优秀企业。

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